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dc.contributor.authorWang, Li
dc.date.accessioned2025-11-20T09:34:33Z
dc.date.available2025-11-20T09:34:33Z
dc.date.issued2022
dc.identifierONIX_20251120T102856_9783961475438_51
dc.identifier.urihttps://library.oapen.org/handle/20.500.12657/108263
dc.languageGerman
dc.relation.ispartofseriesFAU Studien aus dem Maschinenbau
dc.subject.classificationthema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues::TBC Engineering: general
dc.subject.classificationthema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TJ Electronics and communications engineering::TJF Electronics engineering::TJFC Electronics: circuits and components
dc.subject.otherIngenieurwissenschaften
dc.subject.otherIntermodulation
dc.subject.otherMetallisieren
dc.subject.otherProduktionstechnik
dc.subject.otherSpritzgegossener Schaltungsträger
dc.subject.otherMikrowellenstreifenleitung
dc.subject.otherMaschinenbau
dc.subject.otherLaser
dc.titleEvaluierung der Einsetzbarkeit des lasergestützten Verfahrens zur selektiven Metallisierung für die Verbesserung passiver Intermodulation in Hochfrequenzanwendungen
dc.typebook
oapen.abstract.otherlanguageMithilfe des LDS®-Verfahrens kann die Integration elektrischer Systeme in multifunktionale Produkte realisiert werden. In vielen Bereichen, auch in Hochfrequenz (HF)-Anwendungen, bietet das LDS®-Verfahren hohes Nutzenpotenzial hinsichtlich Funktionalität und Integrationsdichte, wodurch ein kompaktes Kommunikationssystem mit genauen Abmessungen sowie mit reduzierter Anzahl an Verbindungsstellen geschaffen werden kann. Hierfür müssen die mittels LDS®-Verfahren hergestellten Bauteile zahlreiche Anforderungen bezüglich ihrer HF-Eigenschaften erfüllen. Passive Intermodulation (PIM) als eine der Leistungsanforderungen ist zu einem wachsenden Anliegen hinsichtlich des Designs und der Fertigung von HF-Bauteilen geworden. Die Evaluierung von PIM an den mittels LDS®-Verfahren hergestellten Mikrostreifenleitungen steht in dieser Arbeit im Fokus.Eine im Rahmen dieser Dissertation durchgeführte Untersuchung kommt zu dem Ergebnis, dass sowohl der PIM-Pegel als auch die Qualitätsmerkmale von den Laserprozessparametern abhängig sind. Durch die Einstellung der Laserprozessparameter kann der PIM-Pegel beeinflusst werden. Aus den präsentierten Forschungsergebnissen ergibt sich, dass das LDS®-Verfahren für HF-Anwendungen unter Berücksichtigung von PIM einsetzbar ist.
oapen.identifier.doi10.25593/978-3-96147-543-8
oapen.relation.isPublishedBy54ed6011-10c9-4a00-b733-ea92cea25e2d
oapen.relation.isbn9783961475438
oapen.relation.isbn9783961475421
oapen.series.number397
oapen.pages151
oapen.place.publicationErlangen


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