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dc.contributor.authorSchaude, Janik
dc.date.accessioned2025-11-20T09:43:37Z
dc.date.available2025-11-20T09:43:37Z
dc.date.issued2024
dc.identifierONIX_20251120T103930_9783961477777_47
dc.identifier.urihttps://library.oapen.org/handle/20.500.12657/108318
dc.languageGerman
dc.relation.ispartofseriesFAU Studien aus dem Maschinenbau
dc.subject.classificationthema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues::TBM Instruments and instrumentation::TBMM Engineering measurement and calibration
dc.subject.otherMesstechnik
dc.subject.otherKonfokalmikroskopie
dc.subject.otherRasterkraftmikroskopie
dc.subject.otherMetrologie
dc.titleUntersuchungen zur rasterkraft- und konfokalmikroskopischen Charakterisierung nanometrologischer Referenzkörper
dc.typebook
oapen.abstract.otherlanguageHochgenaue Fertigungstechnologien stellen die dimensionelle Messtechnik vor enorme Herausforderungen. In Ermangelung geeigneter Sensorsysteme sind Messungen an komplexen Geometrien mit einem Höchstwert der Messunsicherheit im Nanometerbereich ein größtenteils immer noch ungelöstes Problem. Hauptursächlich ist das Fehlen geeigneter Verfahren zur hochgenauen Kalibrierung mikrodimensionaler Referenzkörper sowohl hinsichtlich ihrer Grob- als auch ihrer Feingestalt. In der vorliegenden Arbeit werden zwei diesbezüglich potentiell geeignete Messmethoden präsentiert und untersucht. Dies ist zum einen ein Rasterkraftmikroskop mit einstellbarer Antastrichtung zur Kalibrierung der Feingestalt und zum anderen die bidirektionale Konfokalmikroskopie zur Kalibrierung der Grobgestalt nanometrologischer Referenzkörper.
oapen.identifier.doi10.25593/978-3-96147-777-7
oapen.relation.isPublishedBy54ed6011-10c9-4a00-b733-ea92cea25e2d
oapen.relation.isbn9783961477777
oapen.relation.isbn9783961477760
oapen.series.number452
oapen.pages167
oapen.place.publicationErlangen


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