Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden
Abstract
Um das gesamte Wertschöpfungspotenzial von LEDs ausnutzen zu können und einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, ist eine qualitativ hochwertige Fügeverbindung zwischen LED und Substrat unabdingbar. In dieser Arbeit wird der Einfluss von Poren in Lötverbindungen auf die Zuverlässigkeit von Hochleistungs-Leuchtdioden mittels thermo-mechanischer und mechanischer Zuverlässigkeitstests sowie FEM-Simulationen untersucht.
Keywords
Verbindungstechnik; Computertomographie; Leuchtdioden; Lötverbindung; ZuverlässigkeitDOI
10.25593/978-3-96147-157-7ISBN
9783961471584, 9783961471584, 9783961471577Publisher
FAU University PressPublisher website
https://www.university-press.fau.de/Publication date and place
Erlangen, 2019Series
FAU Studien aus dem Maschinenbau, 313Classification
Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes


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