Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden

dc.contributor.author	Rauer, Miriam
dc.date.accessioned	2025-11-20T07:24:25Z
dc.date.available	2025-11-20T07:24:25Z
dc.date.issued	2019
dc.identifier	ONIX_20251120T082002_9783961471584_7
dc.identifier.uri	https://library.oapen.org/handle/20.500.12657/108179
dc.language	German
dc.relation.ispartofseries	FAU Studien aus dem Maschinenbau
dc.subject.classification	thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes
dc.subject.other	Verbindungstechnik
dc.subject.other	Computertomographie
dc.subject.other	Leuchtdioden
dc.subject.other	Lötverbindung
dc.subject.other	Zuverlässigkeit
dc.title	Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden
dc.type	book
oapen.abstract.otherlanguage	Um das gesamte Wertschöpfungspotenzial von LEDs ausnutzen zu können und einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, ist eine qualitativ hochwertige Fügeverbindung zwischen LED und Substrat unabdingbar. In dieser Arbeit wird der Einfluss von Poren in Lötverbindungen auf die Zuverlässigkeit von Hochleistungs-Leuchtdioden mittels thermo-mechanischer und mechanischer Zuverlässigkeitstests sowie FEM-Simulationen untersucht.
oapen.identifier.doi	10.25593/978-3-96147-157-7
oapen.relation.isPublishedBy	54ed6011-10c9-4a00-b733-ea92cea25e2d
oapen.relation.isbn	9783961471584
oapen.relation.isbn	9783961471577
oapen.series.number	313
oapen.pages	209
oapen.place.publication	Erlangen